RUDOLPH S3000A 椭圆偏光仪

Rudolph S3000A 椭圆偏光仪概述

RUDOLPH S3000A是一款高性能的椭圆偏光仪，广泛应用于薄膜和表面的无损测量。该设备具有以下主要特点：

1. 高精度与高重复性：RUDOLPH S3000A能够提供精确、可靠的测量结果，适用于科学和工业应用。

2. 多通道双波长设计：它是一种先进的多通道、双波长光谱椭圆偏光仪，可以同时对多达四个样品进行测量，确保了结果的可重复性和可靠性。

3. 宽波长范围：该设备支持从118到8000纳米的广泛波长范围，能够测量有机和无机半导体、薄膜、光学层和基板等多种材料。

4. 温度控制与数据收集：配备温度控制系统和数据收集功能，使得用户可以方便地进行旋转分析和数据分析。

5. 自校准光机与高分辨率检测器：配备自校准光机和高分辨率彩色CCD检测器，确保了测量的准确性和长期稳定性。

6. 用户友好的软件工具：基于Windows的操作系统和先进的流程控制软件，使操作更加简便，并且便于定制和分析。

7. 晶片尺寸兼容性：可以测量最大150毫米的晶片，样本厚度范围为1毫米至4毫米，还可以通过选配模块提升性能。

8. 应用领域：该设备不仅适用于薄膜厚度和光学常数的测量，还能够测量应力和折射率等物理特性，适用于各种科学和工业应用。

总之，RUDOLPH S3000A是一款功能强大且用途广泛的椭圆偏光仪，适合需要高精度和高重复性的科学研究和工业生产环境。